功能用途

XT-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2007《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格，其优点是操作简便，对比直观。

本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再以物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。 根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰地投射到投影屏上，物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。将被测试样放在工作台上，旋转工作台升降手轮，调焦至影像清晰，再调整圆工作台和纵横向调节手轮，使已放大了50倍的试样V型（或U型）缺口投影图与本仪器所提供的也放大了50倍的冲击试样缺口标准尺寸图对比，即判断出冲击试样V型（或U型）缺口的几何尺寸、加工质量。

主要技术参数